SM280 自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀

SM280是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的顯微薄膜厚度測(cè)繪儀。

SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀采用顯微系統(tǒng)，可以進(jìn)一步縮小光斑大小，從而實(shí)現(xiàn)非常優(yōu)秀的空間分辨率。同時(shí)，SM280采用一體化設(shè)計(jì)，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的3軸移動(dòng)平臺(tái)。

1.產(chǎn)品特點(diǎn)：

·非接觸式、非破壞性的測(cè)試系統(tǒng);

·精細(xì)光斑，更佳空間分辨率;

·超長(zhǎng)壽命光源，更高的發(fā)光效率;

·高分辨率、高靈敏度光譜儀，測(cè)繪結(jié)果更準(zhǔn)確可靠;

·軟件界面直觀，操作方便省時(shí);

·集成實(shí)時(shí)攝像頭，監(jiān)控測(cè)量點(diǎn);

·配備顯微物鏡，支持檢測(cè)小尺寸樣品;

·測(cè)繪速度快，支持多點(diǎn)測(cè)繪點(diǎn)位地圖繪制;

·支持繪制樣品 2D/3D 厚度分布圖;

·高精度、長(zhǎng)壽命的 3軸移動(dòng)平臺(tái);

·歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，幫助用戶更好掌握結(jié)果;

·桌面式分布設(shè)計(jì)，適用場(chǎng)景豐富;

2.應(yīng)用領(lǐng)域：

·半導(dǎo)體鍍膜    ·光學(xué)鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統(tǒng)    ·生物醫(yī)學(xué)

3. 選型與規(guī)格參數(shù)：

光學(xué)膜厚儀通過測(cè)量薄膜的光學(xué)性質(zhì)來(lái)確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長(zhǎng)的光線下會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線穿過薄膜時(shí)，會(huì)發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會(huì)發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測(cè)量這些干涉條紋的特征，可以計(jì)算出薄膜的厚度。

光學(xué)膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測(cè)量反射光的強(qiáng)度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學(xué)鍍膜、涂層、光學(xué)薄膜等。通過光學(xué)膜厚儀可以非常精確地測(cè)量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、材料等領(lǐng)域。